1. HOME
  2. センター機器・講習検索

センター機器・講習検索

絞り込み検索したい項目のチェック、またはキーワードにより検索してください。
チェックを全て外した場合は全検索となります。

一覧表示するときは、サイドメニューの「機器一覧」等からご利用ください。

Result

倒立光学顕微鏡: DMI3000 B

  • 機器名

    リサーチ倒立顕微鏡:  DMI3000 B

  • メーカー

    ライカ マイクロシステムズ (Leica Microsystems)

  • 型式

    DMI3000 B

  • 利用目的

    透過試料、シャーレ上の培養試料等の蛍光観察

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

ICP発光分光装置 : ICPE-9000

  • 機器名

    誘導結合プラズマ発光分光分析装置 (ICP-AES, ICP-OES)

  • メーカー

    島津製作所

  • 型式

    ICPE-9000

  • 利用目的

    元素分析 (溶液、無機元素)

  • 担当

    髙梨、伊澤

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

共焦点レーザー顕微鏡: LSM5

  • 機器名

    共焦点レーザー顕微鏡

  • メーカー

    カール・ツァイス

  • 型式

    LSM5

  • 利用目的

    透過試料の蛍光観察

  • 担当

    撤去済機器

  • 連絡先

    -

画像

X線光電子分光分析装置: Quantera-SXM

  • 機器名

    X線光電子分光法(XPS)

  • メーカー

    アルバック・ファイ

  • 型式

    Quantera-SXM

  • 利用目的

    表面の元素分析、元素の結合状態分析

  • 担当

    金田

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

透過電子顕微鏡: JEM-2100F

  • 機器名

    透過電子顕微鏡(TEM)

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JEM-2100F

  • 利用目的

    形態観察、結晶構造解析、元素分析

  • 担当

    金田

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR):FT-IR 6200

  • 機器名

    フーリエ変換 赤外分光光度計

  • メーカー

    日本分光

  • 型式

    FT-IR 6200

  • 利用目的

    有機化合物の構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

走査型電子顕微鏡:SU8010

  • 機器名

    走査電子顕微鏡

  • メーカー

    日立ハイテク

  • 型式

    SU8010

  • 利用目的

    形態観察、元素分析

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

核磁気共鳴装置(NMR):AVANCE III 600

  • 機器名

    核磁気共鳴装置 (NMR)

  • メーカー

    ブルカー

  • 型式

    AVANCE III 600

  • 利用目的

    分子・結晶 構造解析、成分同定、反応解析、分子ダイナミクス

  • 担当

    [溶液 他]石原;[固体]川村(工学研究院・教員)

  • 連絡先

    専用ページ参照

画像

二重収束型質量分析計(MS,GC/MS): JMS-MS600

  • 機器名

    二重収束型質量分析計,ガスクロマトグラフ質量分析計

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JMS-MS600

  • 利用目的

    有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

引張試験機:テンシロンRTF1350

  • 機器名

    引張試験機

  • メーカー

    エー・アンド・デイ

  • 型式

    テンシロンRTF1350

  • 利用目的

    金属材料の試験・評価

  • 担当

    外部協力教員(工学研究院・廣澤)

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

マイクロウェーブ試料前処理装置: ETHOS UP

  • 機器名

    マイクロウェーブ試料前処理装置

  • メーカー

    マイルストーンゼネラル

  • 型式

    ETHOS UP

  • 利用目的

    試料前処理(溶液化)

  • 担当

    高梨・伊澤・石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

MALDI (TOF/TOF) 質量分析計: Autoflex speed

  • 機器名

    MALDI-TOF/TOF質量分析計

  • メーカー

    ブルカー

  • 型式

    Autoflex speed

  • 利用目的

    有機化合物の同定、ペプチド等の定性・構造解析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

高速液体クロマトグラフ: LaChrom Ultra

  • 機器名

    超高速液体クロマトグラフ(UHPLC)

  • メーカー

    日立ハイテク

  • 型式

    LaChrom Ultra

  • 利用目的

    混合物の成分分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

高速液体クロマトグラフ: LaChrom Elite

  • 機器名

    高速液体クロマトグラフ(HPLC)

  • メーカー

    日立ハイテク

  • 型式

    LaChrom Elite

  • 利用目的

    混合物の成分分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

電子天秤

  • 機器名

    分析用電子天秤

  • メーカー

    メトラー・トレド、ザルトリウス

  • 型式

    METTLER TOLEDO・XPR2U / sartorius・ME5 / METTLER TOLEDO・XPE105

  • 利用目的

    元素分析、定量分析(秤量)

  • 担当

    石原(メイン)

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

電子スピン共鳴(ESR):JES-FA200

  • 機器名

    電子スピン共鳴装置(ESR)

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JES-FA200

  • 利用目的

    結晶中の電子状態測定、化学反応解析、生理活性測定など

  • 担当

    外部協力教員(工学研究院・菊地)

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS): JMS-Q1000TD

  • 機器名

    薄層クロマトグラフ質量分析計(TLC-MS)

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JMS-Q1000TD

  • 利用目的

    有機化合物の定性分析・簡易分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

紫外可視分光光度計:V-560

  • 機器名

    紫外-可視分光光度計(UV-Vis)

  • メーカー

    日本分光

  • 型式

    V-560

  • 利用目的

    化合物の光学特性の測定、公定法による定量

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

溶媒濃縮装置(コンビニ・エバポC1)

  • 機器名

    コンビニ・エバポ

  • メーカー

    バイオクロマト

  • 型式

    C1

  • 利用目的

    溶媒濃縮、試料前処理

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS): Nano Frontier LD

  • 機器名

    液体クロマトグラフ:LIT-q-TOFタンデム質量分析計

  • メーカー

    日立ハイテク

  • 型式

    Nano Frontier LD

  • 利用目的

    有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

核磁気共鳴装置(NMR):ECX400

  • 機器名

    核磁気共鳴装置 (NMR)

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    ECX 400

  • 利用目的

    分子ダイナミクス、分子構造解析、成分同定、反応解析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    専用ページを参照

画像

核磁気共鳴装置(NMR):ECA500

  • 機器名

    核磁気共鳴装置 (NMR)

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    ECA 500

  • 利用目的

    分子構造解析、成分同定、反応解析、分子ダイナミクス

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    専用ページを参照

画像

核磁気共鳴装置(NMR):DRX500

  • 機器名

    核磁気共鳴装置 (NMR)

  • メーカー

    ブルカー

  • 型式

    DRX 500

  • 利用目的

    分子構造解析、成分同定、反応解析、分子ダイナミクス

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    専用ページを参照

画像

凍結粉砕機:JFC-400

  • 機器名

    凍結粉砕機

  • メーカー

    日本分析工業

  • 型式

    JFC-400

  • 利用目的

    試料の粉砕・前処理

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

ガスクロマトグラフ-トリプル四重極質量分析計 (GC/MS):Agilent7000B

  • 機器名

    ガスクロマトグラフートリプル四重極質量分析計

  • メーカー

    アジレント・テクノロジー

  • 型式

    Agilent 7000B

  • 利用目的

    有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

イオンクロマトグラフ:IA-300

  • 機器名

    イオンクロマトグラフ(IC)

  • メーカー

    東亜ディーケーケー

  • 型式

    IA-300

  • 利用目的

    イオンの分離、定量

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

pHメーター: Orion Star VERSA Pro

  • 機器名

    pHメーター・マルチメーター

  • メーカー

    サーモフィッシャーサイエンティフィック

  • 型式

    Orion Star VERSA Pro

  • 利用目的

    pH測定、イオン・導電率測定、溶存酸素量

  • 担当

    石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

CHNS有機元素分析: UNICUBE

  • 機器名

    CHNS 有機元素分析装置

  • メーカー

    エレメンター

  • 型式

    UNICUBE

  • 利用目的

    元素分析[CHNS元素]

  • 担当

    石原(メイン);高梨

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

ラマン分光計: inVia Reflex

  • 機器名

    ラマン分光計

  • メーカー

    レニショー

  • 型式

    inVia reflex

  • 利用目的

    材料、有機化合物の定性・定量、天然物・微生物などの分析、異物分析など

  • 担当

    髙梨

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

蛍光X線分析装置:JSX-3100RII 

  • 機器名

    蛍光X線分析(XRF: X‐ray Fluorescence)装置

  • メーカー

    JEOL(日本電子)

  • 型式

    JSX-3100RII

  • 利用目的

    バルクの元素分析

  • 担当

    髙梨

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

単結晶X線構造解析装置:XtaLAB PRO

  • メーカー

    リガク

  • 型式

    XtaLAB PRO

  • 利用目的

    単結晶試料の構造解析

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

MALDI/MS(Autoflex speed)講習会

  • 機器情報

    MALDI (TOF/TOF) 質量分析計: Autoflex speed

  • 場所

    機器分析評価センター212-1号室(質量分析装置室)

  • 対象

    利用予定者ならどなたでも

画像

【利用方法】NMR

  • NMRの利用方法について説明します。項目の最後に用意しているNMR利用ガイドなどのファイルもご活用ください。

画像

X線安全講習

  • 場所

    オンデマンド

  • 対象

    今年度X線装置新規利用者

白色干渉計搭載レーザー顕微鏡: VK-X3000

  • 機器名

    白色干渉計搭載レーザー顕微鏡

  • メーカー

    キーエンス

  • 型式

    VK-X3000

  • 利用目的

    試料の表面観察、表面形状測定

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

XRD(SmartLab)講習

  • 機器情報

    多目的X線回折装置:SmartLab

  • 場所

    機器分析評価センター 212-3室

  • 対象

    学部生・大学院生・教職員(詳細は下記)

SEM講習(VE-8800、JSM-7001F、SU8010)

  • 場所

    【SU8010】103室                 【VE-8800、JSM-7001F】105室

  • 対象

    【VE-8800】学部生、大学院生、教職員いずれも可  【SU8010、JSM-7001F】学部生は特別な理由がある場合のみ

X線回折装置の機種選択

  • X線回折装置は2機種ありますが混雑緩和や機種が限定される測定への対応のため、新規利用者に対しては用途により使用機種を分けさせて頂きます。そのため研究室内の既存XRDユーザーの方と使用機種が異なることがありますがご了承ください。

電動ズーム顕微鏡:AxioZoom.V16

  • 機器名

    電動ズーム顕微鏡

  • メーカー

    カール・ツァイス

  • 型式

    AxioZoom.V16

  • 利用目的

    試料の蛍光観察

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

共焦点レーザー顕微鏡: LSM980

  • 機器名

    共焦点レーザー顕微鏡

  • メーカー

    カール・ツァイス

  • 型式

    LSM980

  • 利用目的

    透過試料の蛍光観察、試料の表面観察

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

原子吸光分光光度計: AA-7000

  • 機器名

    原子吸光分光光度計

  • メーカー

    島津製作所

  • 型式

    AA-7000

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

【利用方法】CHNS有機元素分析

  • CHNS元素分析装置の利用方法などについて説明いたします。主に学内者向けとなりますので、学外利用者はお問い合わせフォームからご相談ください。

画像

【システム紹介】スペクトル解析システム

  • 機器分析評価センターでは、いくつのスペクトル解析システムを用意しています。研究室については、共同購入のご相談も承ります。

画像

蛍光分光光度計: FP-8500

  • 機器名

    蛍光分光光度計(fluorescence spectrophotometer)

  • メーカー

    日本分光(JASCO)

  • 型式

    FP-8500

  • 利用目的

    発光分析(紫外~可視光)[溶液・バルク]

  • 担当

    高梨・石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

ヒートブロック酸分解システム:DigiPREP CUBE

  • 機器名

    ヒートブロック

  • メーカー

    SCP SCIENCE (GL Sciences)

  • 型式

    DigiPREP CUBE

  • 利用目的

    固体試料の加熱酸分解

  • 担当

    髙梨、伊澤

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡(リンク)

画像

FIB-SEM: Crossbeam 550

  • 機器名

    集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM)

  • メーカー

    カールツァイス

  • 型式

    Crossbeam550

  • 利用目的

    サブミクロンオーダーでの微細加工

  • 担当

    金田・吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

FTIR-6200 講習会

  • 機器情報

    フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR):FT-IR 6200

  • 場所

    機器分析評価センター203号室(FTIR装置室)

  • 対象

    利用予定者ならどなたでも

画像

オスミウムコーター: Neoc-STB

  • 機器名

    オスミウムコーター

  • メーカー

    メイワフォーシス

  • 型式

    Neoc-STB

  • 利用目的

    導電性のない電子顕微鏡試料のチャージアップ防止のためのコーティング

  • 担当

    金田、吉原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡(リンク)

ICP質量分析装置 : Agilent 7700x

  • 機器名

    誘導結合プラズマ質量分析装置 (Inductivity coupled plasma mass spectrometer)

  • メーカー

    Agilent

  • 型式

    Agilent 7700x

  • 利用目的

    元素分析(無機元素)[溶液・バルク]

  • 担当

    髙梨

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

LC-MS(NanoFrontierLD)講習会

  • 機器情報

    液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS): Nano Frontier LD

  • 場所

    機器分析評価センター206号室(質量分析装置室)

  • 対象

    利用予定者ならどなたでも

画像

走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPM-9700HT

  • 機器名

    走査プローブ顕微鏡

  • メーカー

    島津製作所

  • 型式

    SPM-9700HT

  • 利用目的

    表面形状測定、表面物性測定

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA):JXA-8530F

  • 機器名

    電界放出型電子線マイクロアナライザー(Field Emission - Electron Probe Micro Analyzer)

  • メーカー

    JEOL(日本電子)

  • 型式

    JXA-8530F

  • 利用目的

    形態観察、結晶構造解析、元素分析

  • 担当

    吉原、金田

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

カーボンコーター: CADE-E

  • 機器名

    カーボンコーター

  • メーカー

    メイワフォーシス

  • 型式

    CADE-E

  • 利用目的

    導電性のない電子顕微鏡試料のチャージアップ防止のためのコーティング

  • 担当

    吉原、金田

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡(リンク)

画像

XRD(Ultima Ⅳ)講習

  • 機器情報

    多目的X線回折装置:Ultima Ⅳ

  • 場所

    機器分析評価センター 203室

  • 対象

    学部生・大学院生・教職員

イオンスライサー: EM-09100 I

  • 機器名

    イオンスライサー

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    EM-09100 I

  • 利用目的

    透過型電子顕微鏡試料作製

  • 担当

    金田

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

精密切断機: IsoMet1000

  • 機器名

    精密切断機

  • メーカー

    BUEHLER

  • 型式

    IsoMet1000

  • 利用目的

    精密切断

  • 担当

    金田

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

イオンスパッター: JFC-3000FC

  • 機器名

    イオンスパッター

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JFC-3000FC

  • 利用目的

    イオンスパッタリング

  • 担当

    金田

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

ウルトラミクロトーム: UC7

  • 機器名

    ウルトラミクロトーム

  • メーカー

    ライカ

  • 型式

    UC7

  • 利用目的

    超薄切片の作製

  • 担当

    金田

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

クロスセクションポリッシャ

  • 機器名

    クロスセクションポリッシャ

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    IB-09010CP

  • 利用目的

    断面作成

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡(リンク)

画像

紫外可視分光光度計(V-560)講習会

  • 機器情報

    紫外可視分光光度計:V-560

  • 場所

    機器分析評価センター203号室(FTIR装置室)

  • 対象

    利用予定者ならどなたでも

画像

走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPA-400/SPI3800N

  • 機器名

    走査プローブ顕微鏡

  • メーカー

    日立ハイテク(旧エスアイアイ・ナノテクノロジー製)

  • 型式

    SPA-400/SPI3800N

  • 利用目的

    表面形状測定、表面物性測定

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

NMR講習会

  • 機器情報

    【利用方法】NMR

  • 場所

    機器分析評価センター101、102、204号室

  • 対象

    利用予定者ならどなたでも

画像

集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM):JIB-4501

  • 機器名

    集束イオンビーム(Focused Ion Beam :FIB)-走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)加工観察装置

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JIB-4501

  • 利用目的

    試料加工、成膜、前処理

  • 担当

    この装置は部局管理機器となりました。

  • 連絡先

    下記の部局管理機器についてをご参照ください

画像

走査型電子顕微鏡:VE-8800

  • メーカー

    KEYENCE

  • 型式

    VE-8800

  • 利用目的

    形態観察

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

走査型電子顕微鏡:JSM-7001F

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JSM-7001F

  • 利用目的

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

磁化測定装置(SQUID):S700X-R

  • 機器名

    超伝導量子干渉(Superconducting quantum interference device: SQUID)磁束計

  • メーカー

    Cryogenic limited

  • 型式

    S700X-R

  • 担当

    外部協力教員(環境情報研究院・上原)

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

多目的X線回折装置:Ultima Ⅳ

  • 機器名

    X線回折装置(XRD)

  • メーカー

    リガク

  • 型式

    Ultima Ⅳ

  • 利用目的

    粉末、バルクの結晶構造解析

  • 担当

    外部協力職員(工学研究院等技術部・岡安)、吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

多目的X線回折装置:SmartLab

  • 機器名

    X線回折装置(XRD)

  • メーカー

    リガク

  • 型式

    SmartLab

  • 利用目的

    粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

マグネトロンスパッタ装置:MSP-1S

  • 機器名

    マグネトロンスパッタ装置

  • メーカー

    真空デバイス

  • 型式

    MSP-1S

  • 担当

    吉原

  • 連絡先

    担当者へ連絡

画像

セルソーター:MoFlo Astrios

  • 機器名

    セルソーター

  • メーカー

    ベックマンコールター

  • 型式

    MoFlo Astrios

  • 利用目的

    細胞蛍光測定/分離

  • 担当

    田中

  • 連絡先

    担当者に連絡

画像

サーモグラフィ: FLIR E60

  • 機器名

    サーモグラフィ【Thermography】

  • メーカー

    FLIR

  • 型式

    E60

  • 利用目的

    サーモグラフィ

  • 担当

    高梨・石原

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

【マニュアル・技術資料】NMR

  • 核磁気共鳴法のマニュアルや資料をまとめました。

画像

【利用方法】質量分析法(MS)

  • MSの利用方法について説明します。

イオンスパッター: JFC-1500

  • 機器名

    イオンスパッター

  • メーカー

    日本電子

  • 型式

    JFC-1500

  • 利用目的

    導電性のない電子顕微鏡試料のチャージアップ防止のためのコーティング、親水化処理、イオンエッチング

  • 担当

    髙梨

研磨機:  EcoMet250 + AutoMet250

  • 機器名

    研磨機

  • メーカー

    BUEHLER

  • 型式

    エコメット250・オートメット250

  • 利用目的

    鏡面研磨

  • 担当

    中嶋

  • 連絡先

    お問い合わせフォームより連絡

画像

【装置概要】核磁気共鳴法(NMR)

  • 核磁気共鳴法の概要について説明します。

画像