センター機器・講習検索

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【利用方法】NMR

NMRの利用方法について説明します。項目の最後に用意しているNMR利用ガイドなどのファイルもご活用ください。

X線安全講習

場所

オンデマンド
対象

今年度X線装置新規利用者

白色干渉計搭載レーザー顕微鏡： VK-X3000

機器名

白色干渉計搭載レーザー顕微鏡
メーカー

キーエンス
型式

VK-X3000
利用目的

試料の表面観察、表面形状測定
担当

吉原
連絡先

担当者へ連絡

XRD(SmartLab)講習

機器情報

多目的X線回折装置：SmartLab
場所

機器分析評価センター 212-3室
対象

学部生・大学院生・教職員（詳細は下記）

SEM講習（VE-8800、JSM-7001F、SU8010）

場所

【SU8010】103室　　　　　　　　　　　　　　　　　【VE-8800、JSM-7001F】105室
対象

【VE-8800】学部生、大学院生、教職員いずれも可　　【SU8010、JSM-7001F】学部生は特別な理由がある場合のみ

X線回折装置の機種選択

X線回折装置は2機種ありますが混雑緩和や機種が限定される測定への対応のため、新規利用者に対しては用途により使用機種を分けさせて頂きます。そのため研究室内の既存XRDユーザーの方と使用機種が異なることがありますがご了承ください。

電動ズーム顕微鏡：AxioZoom.V16

機器名

電動ズーム顕微鏡
メーカー

カール・ツァイス
型式

AxioZoom.V16
利用目的

試料の蛍光観察
担当

田中
連絡先

担当者へ連絡

共焦点レーザー顕微鏡： LSM980

機器名

共焦点レーザー顕微鏡
メーカー

カール・ツァイス
型式

LSM980
利用目的

透過試料の蛍光観察、試料の表面観察
担当

田中
連絡先

担当者へ連絡

共焦点レーザー顕微鏡： LSM5

機器名

共焦点レーザー顕微鏡
メーカー

カール・ツァイス
型式

LSM5
利用目的

透過試料の蛍光観察
担当

撤去済機器
連絡先

-

マイクロウェーブ試料前処理装置：　ETHOS UP

機器名

マイクロウェーブ試料前処理装置
メーカー

マイルストーン（Milestone）
型式

ETHOS UP
利用目的

試料前処理（溶液化）
担当

高梨・伊澤・石原
連絡先

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顕微ラマン分光装置：　inVia Reflex

機器名

Raman Microscope
メーカー

レニショー（RENISHAW）
型式

inVia reflex
利用目的

材料、有機化合物の定性・定量、天然物・微生物などの分析、異物分析など
担当

髙梨
連絡先

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フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200

機器名

Fourier Transform Infrared Spectroscopy
メーカー

JASCO（日本分光）
型式

FT-IR 6200
利用目的

有機化合物の構造解析、材料の表面・バルク分析、マイクロ粒子の分析
担当

石原
連絡先

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原子吸光分光光度計：　AA-7000

機器名

原子吸光分光光度計
メーカー

島津製作所
型式

AA-7000
担当

田中
連絡先

お問い合わせフォームより連絡

蛍光X線分析装置：JSX-3100RII　

機器名

蛍光X線分析（XRF： X‐ray Fluorescence）装置
メーカー

JEOL（日本電子）
型式

JSX-3100RII
利用目的

バルクの元素分析
担当

髙梨
連絡先

担当者へ連絡

【利用方法】CHNS有機元素分析

CHNS元素分析装置の利用方法などについて説明いたします。主に学内者向けとなりますので、学外利用者はお問い合わせフォームからご相談ください。

CHNS有機元素分析: UNICUBE

機器名

CHNS Elemental Analyzer
メーカー

elementar（エレメンター）
型式

UNICUBE
利用目的

元素分析［CHNS元素］
担当

石原（メイン）；高梨
連絡先

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【システム紹介】スペクトル解析システム

機器分析評価センターでは、いくつのスペクトル解析システムを用意しています。研究室については、共同購入のご相談も承ります。

凍結粉砕機：JFC-400

機器名

Cryogenic Sample Crusher
メーカー

日本分析工業
型式

JFC-400
利用目的

試料の粉砕・前処理
担当

石原
連絡先

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MALDI (TOF/TOF) 質量分析計：　Autoflex speed

機器名

MALDI-TOF/TOF質量分析計【Matrix Assisted Laser Desorption / Ionization – Time-of-Flight/ Time-of-Flight mass spectrometer】
メーカー

ブルカー（BRUKER）
型式

Autoflex speed
利用目的

有機化合物の同定、ペプチド等の定性・構造解析
担当

石原
連絡先

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蛍光分光光度計: FP-8500

機器名

蛍光分光光度計（fluorescence spectrophotometer）
メーカー

日本分光（JASCO）
型式

FP-8500
利用目的

発光分析（紫外～可視光）［溶液・バルク］
担当

高梨・石原
連絡先

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ヒートブロック酸分解システム：DigiPREP CUBE

機器名

ヒートブロック
メーカー

SCP SCIENCE (GL Sciences)
型式

DigiPREP CUBE
利用目的

固体試料の加熱酸分解
担当

髙梨、伊澤
連絡先

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二重収束型質量分析計（MS，GC/MS）：　JMS-MS600

機器名

二重収束型質量分析計（Double-focusing Mass Spectrometer），ガスクロマトグラフ質量分析計
メーカー

JEOL（日本電子）
型式

JMS-MS600
利用目的

有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析
担当

石原
連絡先

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ICP発光分光装置 : ICPE-9000

機器名

誘導結合プラズマ発光分光分析装置 (ICP-AES, ICP-OES)
メーカー

島津製作所
型式

ICPE-9000
利用目的

元素分析 (溶液、無機元素)
担当

髙梨、伊澤
連絡先

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FIB-SEM: Crossbeam 550

機器名

集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SEM）
メーカー

カールツァイス
型式

Crossbeam550
利用目的

サブミクロンオーダーでの微細加工
担当

金田・吉原
連絡先

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FTIR-6200　講習会

機器情報

フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200
場所

機器分析評価センター203号室（FTIR装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

オスミウムコーター：　Neoc-STB

機器名

オスミウムコーター
メーカー

メイワフォーシス
型式

Neoc-STB
利用目的

導電性のない電子顕微鏡試料のチャージアップ防止のためのコーティング
担当

金田、吉原
連絡先

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ICP質量分析装置 : Agilent 7700x

機器名

誘導結合プラズマ質量分析装置（Inductivity coupled plasma mass spectrometer）
メーカー

Agilent
型式

Agilent 7700x
利用目的

元素分析（無機元素）［溶液・バルク］
担当

髙梨
連絡先

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MALDI/MS（Autoflex speed）講習会

機器情報

MALDI (TOF/TOF) 質量分析計：　Autoflex speed
場所

機器分析評価センター212-1号室（質量分析装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

ガスクロマトグラフ－トリプル四重極質量分析計 (GC/MS)：Agilent7000B

機器名

Gas Chromatograph Mass Spectrometer【Triple Quadrupole GC/MS】
メーカー

Agilent Technologies
型式

Agilent 7000B
利用目的

有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析
担当

石原
連絡先

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LC-MS（NanoFrontierLD）講習会

機器情報

液体クロマトグラフ－タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS)：　Nano Frontier LD
場所

機器分析評価センター206号室（質量分析装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPM-9700HT

機器名

走査プローブ顕微鏡
メーカー

島津製作所
型式

SPM-9700HT
利用目的

表面形状測定、表面物性測定
担当

田中
連絡先

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電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F

機器名

電界放出型電子線マイクロアナライザー（Field Emission - Electron Probe Micro Analyzer）
メーカー

JEOL（日本電子）
型式

JXA-8530F
利用目的

形態観察、結晶構造解析、元素分析
担当

吉原、金田
連絡先

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カーボンコーター：　CADE-E

機器名

カーボンコーター
メーカー

メイワフォーシス
型式

CADE-E
利用目的

導電性のない電子顕微鏡試料のチャージアップ防止のためのコーティング
担当

吉原、金田
連絡先

お問い合わせフォームより連絡（リンク）

XRD(Ultima Ⅳ)講習

機器情報

多目的X線回折装置：Ultima Ⅳ
場所

機器分析評価センター 203室
対象

学部生・大学院生・教職員

イオンスライサー：　EM-09100 I

機器名

イオンスライサー
メーカー

日本電子
型式

EM-09100 I
利用目的

透過型電子顕微鏡試料作製
担当

金田
連絡先

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精密切断機：　IsoMet1000

機器名

精密切断機
メーカー

BUEHLER
型式

IsoMet1000
利用目的

精密切断
担当

金田
連絡先

担当者に連絡

イオンスパッター：　JFC-3000FC

機器名

イオンスパッター
メーカー

日本電子
型式

JFC-3000FC
利用目的

イオンスパッタリング
担当

金田
連絡先

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ウルトラミクロトーム：　UC7

機器名

ウルトラミクロトーム
メーカー

ライカ
型式

UC7
利用目的

超薄切片の作製
担当

金田
連絡先

担当者へ連絡

X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM

機器名

X線光電子分光法（X-ray photoelectron spectroscopy；XPS）
メーカー

アルバック・ファイ
型式

Quantera-SXM
利用目的

表面の元素分析、元素の結合状態分析
担当

金田
連絡先

担当者へ連絡

薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS)：　JMS-Q1000TD

機器名

Thin-layer Chromatograph Mass Spectrometer【Q1000TD】
メーカー

日本電子（JEOL）
型式

JMS-Q1000TD
利用目的

有機化合物の定性分析・簡易分析
担当

石原
連絡先

お問い合わせフォームより連絡

クロスセクションポリッシャ

機器名

クロスセクションポリッシャ
メーカー

日本電子
型式

IB-09010CP
利用目的

断面作成
連絡先

お問い合わせフォームより連絡（リンク）

紫外可視分光光度計（V-560）講習会

機器情報

紫外可視分光光度計：V-560
場所

機器分析評価センター203号室（FTIR装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPA-400/SPI3800N

機器名

走査プローブ顕微鏡
メーカー

日立ハイテク(旧エスアイアイ・ナノテクノロジー製)
型式

SPA-400/SPI3800N
利用目的

表面形状測定、表面物性測定
担当

田中
連絡先

担当者へ連絡

NMR講習会

機器情報

【利用方法】NMR
場所

機器分析評価センター101、102、204号室
対象

利用予定者ならどなたでも

電子スピン共鳴（ESR）：JES-FA200

機器名

電子スピン共鳴装置【Electron Spin Resonance Spectrometer: ESR】
メーカー

JEOL（日本電子）
型式

JES-FA200
利用目的

結晶中の電子状態測定、化学反応解析、生理活性測定など
担当

外部協力教員（工学研究院・菊地）
連絡先

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集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SEM）：JIB-4501

機器名

集束イオンビーム（Focused Ion Beam :FIB）－走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope:SEM）加工観察装置
メーカー

日本電子
型式

JIB-4501
利用目的

試料加工、成膜、前処理
担当

この装置は部局管理機器となりました。
連絡先

下記の部局管理機器についてをご参照ください