センター機器・講習検索

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X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM

機器名

X線光電子分光法（XPS）
メーカー

アルバック・ファイ
型式

Quantera-SXM
利用目的

表面の元素分析、元素の結合状態分析
担当

金田
連絡先

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FIB-SEM: Crossbeam 550

機器名

集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SEM）
メーカー

カールツァイス
型式

Crossbeam550
利用目的

サブミクロンオーダーでの微細加工
担当

金田・吉原
連絡先

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紫外可視分光光度計（V-560）講習会

機器情報

紫外可視分光光度計：V-560
場所

機器分析評価センター203号室（FTIR装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

MALDI (TOF/TOF) 質量分析計：　Autoflex speed

機器名

MALDI-TOF/TOF質量分析計
メーカー

ブルカー
型式

Autoflex speed
利用目的

有機化合物の同定、ペプチド等の定性・構造解析
担当

石原
連絡先

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LC-MS（OrbitrapExploris240）講習会

機器情報

液体クロマトグラフ－質量分析計 (LC/MS)：　Exploris 240
場所

機器分析評価センター206号室（質量分析装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

光学顕微鏡選択ガイド - 材料系向け顕微鏡 -

このページでは、材料系向けの顕微鏡について、選択の指標となる機能について説明しています。

透過電子顕微鏡：　JEM-2100F

機器名

透過電子顕微鏡（TEM）
メーカー

日本電子（株）
型式

JEM-2100F
利用目的

形態観察、結晶構造解析、元素分析
担当

金田
連絡先

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走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPM-9700HT

機器名

走査プローブ顕微鏡
メーカー

（株）島津製作所
型式

SPM-9700HT
利用目的

表面形状測定、表面物性測定
担当

田中
連絡先

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走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPA400/SPI3800N

機器名

走査プローブ顕微鏡
メーカー

日立ハイテク(旧エスアイアイ・ナノテクノロジー製)
型式

SPA400/SPI3800N
利用目的

表面形状測定、表面物性測定
担当

田中
連絡先

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走査プローブ顕微鏡ガイド

走査プローブ顕微鏡(SPM)は、顕微鏡という名称が用いられるものの光を利用せず、尖った探針の先端で試料表面をスキャンして形状や様々な表面物性を測定できる装置で、AFM(原子間力顕微鏡)とも呼ばれます。本ガイドでは、SPMの測定原理や可能な測定法などを解説します。
本ガイドは、機器分析評価センターにで使用されている下記の装置の概要と測定法について記載しています。

島津製作所製 SPM-9700HT

SII(現日立ハイテク)製 SPA400/SPI3800N

走査プローブ顕微鏡ガイド - ダイナミックモードで可能な物性測定 -

ダイナミックモードは、探針を共振周波数付近で振動させて間欠的に試料に接触させ、表面形状を測定します。表面形状と同時に、または複数回スキャンによって、振動の変化を利用していろいろな表面物性を測定できます。

走査プローブ顕微鏡ガイド - コンタクトモードで可能な物性測定 -

コンタクトモードは探針先端を常に試料に接触して表面をスキャンします。形状測定と同時に、先端が常に試料に接触している特性を活かして表面物性を測定可能です。

走査プローブ顕微鏡ガイド - 液中測定 -

このページでは、走査プローブ顕微鏡における液中測定について説明しています。

走査プローブ顕微鏡ガイド - カンチレバーの選択 -

このページでは、走査プローブ顕微鏡による測定で試料をスキャンする探針であるカンチレバーの性質と、その選択について説明しています。

走査プローブ顕微鏡では、カンチレバーの先端にある微細な探針を試料表面にアプローチし、コンタクトモードの場合は探針が試料から押されることで生まれるたわみ、ダイナミックモードの場合はカンチレバーの振動を元に形状を測定します。測定においてどのようなカンチレバーを使用するかはデータに直結するため、非常に重要です。カンチレバーは各メーカーから非常に多くの種類が販売されているため、その形状やパラメーターを把握して選択する必要があります。

走査プローブ顕微鏡ガイド - スキャナの特性と測定範囲 -

このページでは、走査プローブ顕微鏡の重要な要素の一つである、スキャナとその特性について説明しています。走査プローブ顕微鏡による形状測定では、探針が動いて試料表面を走査するイメージがありますが、多くの装置では探針は固定または探針が試料にアプローチするまでの大きな上下運動のみが可能です。試料表面をスキャンする際には、ナノメートル以下の微細な動きを実現可能なチューブピエゾスキャナが使用されます。

走査プローブ顕微鏡ガイド - 磁気力測定(MFM) -

このページは、走査プローブ顕微鏡の物性測定の一つである磁気力測定（Magnetic Force Microscopy: MFM)について説明しています。MFMは、試料表面形状と同時に試料の磁気分布を知ることができる測定法です。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- ナノ3Dマッピング -

このページでは、機器分析評価センターのSPM-9700HTに搭載されているナノ3Dマッピングの機能について説明しています。ナノ3Dマッピングは、分解能を上げにくいという欠点はありますが、表面形状と同時に弾性率と吸着力の情報を得ることができる、優れた方法です。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- フォースカーブ測定 -

このページでは、走査プローブ顕微鏡の基本機能のひとつであるフォースカーブ測定について説明しています。フォースカーブは試料表面の形状では無く、表面の特定の1点について探針先端を押し込んで離すことで、試料の硬さや吸着力の情報を得る方法です。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- 表面電位測定(KPFM) -

このページは、走査プローブ顕微鏡の電気的な測定の一つである表面電位測定(Kelvin-prove force microscopy: KPFM)について説明しています。KPFMは、ナノスケールの電気特性や電子物性評価のための計測法として使用されます。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- 位相測定 -

このページは、ダイナミックモードでの位相測定について説明しています。位相測定は一般的なダイナミックモードでの形状測定と同時に測定が可能で、形状だけではわからない表面の粘弾性分布の情報が得られるため、よく使用される測定モードです。得られる粘弾性は定性的な情報で、画像内での比較が可能です。複数のデータの粘弾性を比較するためには、それぞれの視野内に同一の材質の表面を入れるなどの工夫が必要です。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- フォースモジュレーション測定 -

このページは、走査プローブ顕微鏡(SPM)でのフォースモジュレーション測定について説明しています。この測定法は、コンタクトモードで形状と同時に試料の粘弾性分布の情報を定性的に得られる方法で、表面形状だけではわからない材質の違いを調べることができます。あくまで定性的な情報のため、異なる試料の粘弾性の違いを比較するには、視野内に同一の材質の表面を入れるなどの工夫が必要です。ダイナミックモードでの位相測定と同様の測定結果が得られますが、比較的柔らかい試料に適しています。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- 水平力測定(LFM、FFM) -

このページでは、走査プローブ顕微鏡(SPM)による水平力(摩擦力)測定について説明しています。摩擦力測定はLFM(lateral force microscopy)またはFFM(friction force microscopy)と呼ばれます。LFMでは、表面形状と同時に摩擦の分布を測定することで、表面形状だけでは見えない材質の違いを測定できます。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- 電流測定(C-AFM) -

このページでは、走査プローブ顕微鏡(SPM)による電流測定について説明しています。電流測定はC-AFM(Conductive-AFM)とも呼ばれ、コンタクトモードによる表面形状測定と共に、カンチレバーと試料の間に一定の電圧をかけ、流れる電流の変化から試料の導電性の分布を同時に測定する方法です。電流測定には、試料台 - 試料 - カンチレバーの間に電流が流れるように導通を取る必要があり、導電性を確保するためにコーティングしたカンチレバーを使用します。

走査プローブ顕微鏡ガイド　- 形状測定(コンタクトモード、ダイナミックモード) -

このページでは、走査プローブ顕微鏡(SPM)の基本の測定法となる表面形状測定について説明しています。表面をなぞるようにスキャンするコンタクトモードと探針を振動させて間欠的に先端が触れるダイナミックモードに分かれます。名称はメーカーによって異なり、SPA400/SPI3800Nではコンタクトモードを「AFM」、ダイナミックモードを「DFM」と呼びますが、本ページではコンタクトモード、ダイナミックモードに統一しています。

ICP質量分析装置 : Agilent 7700x

機器名

ICP 質量分析装置
メーカー

アジレント・テクノロジー（株）
型式

Agilent 7700x
利用目的

元素分析（無機元素）［溶液・バルク］
担当

伊澤、髙梨
連絡先

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イオンスライサー：　EM-09100 I

機器名

イオンスライサー
メーカー

日本電子（株）
型式

EM-09100 I
利用目的

透過型電子顕微鏡試料作製
担当

金田
連絡先

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核磁気共鳴装置（NMR）：ECX400

機器名

核磁気共鳴装置 (NMR)
メーカー

日本電子（株）
型式

ECX 400
利用目的

分子ダイナミクス、分子構造解析、成分同定、反応解析
担当

石原
連絡先

専用ページを参照

XRD(SmartLab)講習

機器情報

多目的X線回折装置：SmartLab
場所

機器分析評価センター 212-2室
対象

学部生・大学院生・教職員（詳細は下記）

SEM講習（VE-8800、FlexSEM 1000 II、JSM-7001F、SU8010）

場所

【SU8010】103室　　　　　　　　　　　　　　　　　【VE-8800、JSM-7001F、FlexSEM 1000 II】105室
対象

【VE-8800、FlexSEM 1000 II】学部生、大学院生、教職員いずれも可　　　　　　　　　　　　　　　　　　【SU8010、JSM-7001F】学部生は特別な理由がある場合のみ

白色干渉計搭載レーザー顕微鏡： VK-X3000

機器名

白色干渉計搭載レーザー顕微鏡
メーカー

キーエンス
型式

VK-X3000
利用目的

試料の表面観察、表面形状測定
担当

吉原
連絡先

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核磁気共鳴装置（NMR）：ECA500

機器名

核磁気共鳴装置 (NMR)
メーカー

日本電子（株）
型式

ECA 500
利用目的

分子構造解析、成分同定、反応解析、分子ダイナミクス
担当

石原
連絡先

専用ページを参照

走査型電子顕微鏡：JSM-7001F

メーカー

日本電子（株）
型式

JSM-7001F
利用目的

形態観察、元素分析、結晶方位解析
担当

吉原
連絡先

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MALDI/MS（JMS-S3000）講習会

機器情報

MALDI (SpiralTOF) 質量分析計：　JMS-S3000
場所

機器分析評価センター212-1号室（質量分析装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

ラマン分光計：　inVia Reflex

機器名

ラマン分光光度計
メーカー

レニショー
型式

inVia reflex
利用目的

材料、有機化合物の定性・定量、天然物・微生物などの分析、異物分析など
担当

戸田、髙梨
連絡先

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ICP発光分光装置 : ICPE-9000

機器名

ICP発光分光分析装置
メーカー

（株）島津製作所
型式

ICPE-9000
利用目的

元素分析 (溶液、無機元素)
担当

伊澤、髙梨
連絡先

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【利用方法】NMR

NMRの利用方法について説明します。項目の最後に用意しているNMR利用ガイドなどのファイルもご活用ください。

【マニュアル・技術資料】NMR

核磁気共鳴法のマニュアルや資料をまとめました。

電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F

機器名

電界放出型電子線マイクロアナライザー
メーカー

日本電子（株）
型式

JXA-8530F
利用目的

形態観察、結晶構造解析、元素分析
担当

吉原、金田
連絡先

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イオンクロマトグラフ：IA-300

機器名

イオンクロマトグラフ（IC）
メーカー

東亜ディーケーケー
型式

IA-300
利用目的

イオンの分離、定量
担当

石原
連絡先

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MALDI (SpiralTOF) 質量分析計：　JMS-S3000

機器名

MALDI質量分析計
メーカー

日本電子
型式

JMS-S3000
利用目的

有機化合物の同定、ペプチド等の定性・構造解析
担当

石原、戸田
連絡先

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【利用方法】質量分析法（MS）

質量分離計の利用方法について説明します。

GC-MS（OrbitrapExplorisGC）講習会

機器情報

ガスクロマトグラフ－質量分析計 (GC/MS)：　Exploris GC
場所

機器分析評価センター211号室（質量分析装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

液体クロマトグラフ－質量分析計 (LC/MS)：　Exploris 240

機器名

液体クロマトグラフ / Orbitrap質量分析計
メーカー

サーモフィッシャーサイエンティフィック（株）
型式

Exploris 240
利用目的

有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析
担当

石原、戸田
連絡先

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ガスクロマトグラフ－質量分析計 (GC/MS)：　Exploris GC

機器名

ガスクロマトグラフ / Orbitrap質量分析計
メーカー

サーモフィッシャーサイエンティフィック（株）
型式

Exploris GC
利用目的

有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析
担当

石原、戸田
連絡先

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単結晶X線構造解析装置：XtaLAB PRO

メーカー

リガク
型式

XtaLAB PRO
利用目的

単結晶試料の構造解析
担当

吉原
連絡先

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FTIR-6200　講習会

機器情報

フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200
場所

機器分析評価センター203号室（FTIR装置室）
対象

利用予定者ならどなたでも

蛍光X線分析装置：JSX-3100RII　

機器名

蛍光X線分析装置
メーカー

日本電子（株）
型式

JSX-3100RII
利用目的

バルクの元素分析
担当

髙梨
連絡先

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凍結粉砕機：JFC-400

機器名

凍結粉砕機
メーカー

日本分析工業（株）
型式

JFC-400
利用目的

試料の粉砕・前処理
担当

石原
連絡先

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蛍光分光光度計: FP-8500

機器名

蛍光分光光度計
メーカー

日本分光（株）
型式

FP-8500
利用目的

発光分析（紫外～可視光）［溶液・バルク］
担当

高梨・石原
連絡先

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核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 500

機器名

核磁気共鳴装置 (NMR)
メーカー

ブルカー
型式

AVANCE NEO 500
利用目的

分子構造解析、成分同定、反応解析、分子ダイナミクス
担当

石原
連絡先

専用ページを参照

高速液体クロマトグラフ：　LaChrom Ultra

機器名

超高速液体クロマトグラフ（UHPLC）
メーカー

（株）日立ハイテク
型式

LaChrom Ultra
利用目的

混合物の成分分析
担当

石原
連絡先

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高速液体クロマトグラフ：　LaChrom Elite

機器名

高速液体クロマトグラフ（HPLC）
メーカー

（株）日立ハイテク
型式

LaChrom Elite
利用目的

混合物の成分分析
担当

石原
連絡先

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液体クロマトグラフ－タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS)：　Nano Frontier LD

機器名

液体クロマトグラフ：LIT-q-TOFタンデム質量分析計
メーカー

（株）日立ハイテク
型式

Nano Frontier LD
利用目的

有機化合物の定性・定量、混合物の成分分析
担当

石原
連絡先

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【装置概要】核磁気共鳴法（NMR）

核磁気共鳴法の概要について説明します。

薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS)：　JMS-Q1000TD

機器名

薄層クロマトグラフ質量分析計（TLC-MS）
メーカー

日本電子（株）
型式

JMS-Q1000TD
利用目的

有機化合物の定性分析・簡易分析
担当

石原
連絡先

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CHNS有機元素分析: UNICUBE

機器名

CHNS 有機元素分析装置
メーカー

エレメンター (エレメンター・ジャパン（株））
型式

UNICUBE
利用目的

元素分析［CHNS元素］
担当

石原（メイン）；高梨
連絡先

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デジタルマイクロスコープ： Emspira 3

機器名

デジタルマイクロスコープ： Emspira 3
メーカー

ライカ　マイクロシステムズ
型式

Emspira 3
利用目的

固体試料の表面解析、透過解析
担当

中嶋
連絡先

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正立型光学顕微鏡： OPTIPHOT-2

機器名

正立型光学顕微鏡： OPTIPHOT-2
メーカー

株式会社ニコン
型式

OPTIPHOT-2
利用目的

試料の表面観察、光学的解析
担当

中嶋
連絡先

センターお問い合わせフォーム

ヒートブロック酸分解システム：DigiPREP CUBE

機器名

ヒートブロック
メーカー

SCP SCIENCE (GL Sciences)
型式

DigiPREP CUBE
利用目的

固体試料の加熱酸分解
担当

伊澤、髙梨
連絡先

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マイクロウェーブ試料前処理装置：　ETHOS UP

機器名

マイクロウェーブ試料前処理装置
メーカー

マイルストーンゼネラル（株）（マイルストーン™）
型式

ETHOS UP
利用目的

試料前処理（溶液化）
担当

伊澤、高梨、石原
連絡先

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クロスセクションポリッシャ

機器名

クロスセクションポリッシャ
メーカー

日本電子（株）
型式

IB-09010CP
利用目的

断面作成
連絡先

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サーモグラフィ：　FLIR E60

機器名

サーモグラフィ【Thermography】
メーカー

FLIR
型式

E60
利用目的

サーモグラフィ
担当

高梨・石原
連絡先

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集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SEM）：JIB-4501

機器名

集束イオンビーム（Focused Ion Beam :FIB）－走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope:SEM）加工観察装置
メーカー

日本電子（株）
型式

JIB-4501
利用目的

試料加工、成膜、前処理
担当

この装置は部局管理機器となりました。
連絡先

下記の部局管理機器についてをご参照ください