機器分析評価センターでは、いくつのスペクトル解析システムを用意しています。研究室については、共同購入のご相談も承ります。

核磁気共鳴法のマニュアルや資料をまとめました。

CHNS元素分析装置の利用方法などについて説明いたします。主に学内者向けとなりますので、学外利用者はお問い合わせフォームからご相談ください。

NMRの利用方法について説明します。項目の最後に用意しているNMR利用ガイドなどのファイルもご活用ください。

質量分離計の利用方法について説明します。

核磁気共鳴法の概要について説明します。

X線回折装置は2機種ありますが混雑緩和や機種が限定される測定への対応のため、新規利用者に対しては用途により使用機種を分けさせて頂きます。そのため研究室内の既存XRDユーザーの方と使用機種が異なることがありますがご了承ください。

このページでは、ライフサイエンス系向けの顕微鏡について、選択の指標となる機能について説明しています。

このページでは、材料系向けの顕微鏡について、選択の指標となる機能について説明しています。

顕微鏡の照明法は、落射照明と透過照明に分けられます。落射照明は主に表面観察を目的とした測定で、透過照明は透明な試料の測定で使用されます。

蛍光観察は、蛍光分子や蛍光たんぱく質が特定の波長の光を当てるとより長い波長の蛍光を発生することを利用して、観察したい物質だけを染色等で蛍光を持たせる事で、目的の物質を高精度、高感度で観察する方法です。特に生命科学や医学等の分野で広く利用され、試料の詳細な分析に不可欠な技術です。

顕微鏡では、様々な要因で解像度の低下が見られ、理想的な像を得られなくなります。本項では、機器分析評価センターの顕微鏡に搭載されている高解像化機能について説明します。

このページでは、走査プローブ顕微鏡による測定で試料をスキャンする探針であるカンチレバーの性質と、その選択について説明しています。

走査プローブ顕微鏡では、カンチレバーの先端にある微細な探針を試料表面にアプローチし、コンタクトモードの場合は探針が試料から押されることで生まれるたわみ、ダイナミックモードの場合はカンチレバーの振動を元に形状を測定します。測定においてどのようなカンチレバーを使用するかはデータに直結するため、非常に重要です。カンチレバーは各メーカーから非常に多くの種類が販売されているため、その形状やパラメーターを把握して選択する必要があります。

コンタクトモードは探針先端を常に試料に接触して表面をスキャンします。形状測定と同時に、先端が常に試料に接触している特性を活かして表面物性を測定可能です。

このページでは、走査プローブ顕微鏡の重要な要素の一つである、スキャナとその特性について説明しています。走査プローブ顕微鏡による形状測定では、探針が動いて試料表面を走査するイメージがありますが、多くの装置では探針は固定または探針が試料にアプローチするまでの大きな上下運動のみが可能です。試料表面をスキャンする際には、ナノメートル以下の微細な動きを実現可能なチューブピエゾスキャナが使用されます。

ダイナミックモードは、探針を共振周波数付近で振動させて間欠的に試料に接触させ、表面形状を測定します。表面形状と同時に、または複数回スキャンによって、振動の変化を利用していろいろな表面物性を測定できます。

このページでは、機器分析評価センターのSPM-9700HTに搭載されているナノ3Dマッピングの機能について説明しています。ナノ3Dマッピングは、分解能を上げにくいという欠点はありますが、表面形状と同時に弾性率と吸着力の情報を得ることができる、優れた方法です。

このページでは、走査プローブ顕微鏡の基本機能のひとつであるフォースカーブ測定について説明しています。フォースカーブは試料表面の形状では無く、表面の特定の1点について探針先端を押し込んで離すことで、試料の硬さや吸着力の情報を得る方法です。

このページは、走査プローブ顕微鏡(SPM)でのフォースモジュレーション測定について説明しています。この測定法は、コンタクトモードで形状と同時に試料の粘弾性分布の情報を定性的に得られる方法で、表面形状だけではわからない材質の違いを調べることができます。あくまで定性的な情報のため、異なる試料の粘弾性の違いを比較するには、視野内に同一の材質の表面を入れるなどの工夫が必要です。ダイナミックモードでの位相測定と同様の測定結果が得られますが、比較的柔らかい試料に適しています。

このページは、ダイナミックモードでの位相測定について説明しています。位相測定は一般的なダイナミックモードでの形状測定と同時に測定が可能で、形状だけではわからない表面の粘弾性分布の情報が得られるため、よく使用される測定モードです。得られる粘弾性は定性的な情報で、画像内での比較が可能です。複数のデータの粘弾性を比較するためには、それぞれの視野内に同一の材質の表面を入れるなどの工夫が必要です。

このページでは、走査プローブ顕微鏡(SPM)の基本の測定法となる表面形状測定について説明しています。表面をなぞるようにスキャンするコンタクトモードと探針を振動させて間欠的に先端が触れるダイナミックモードに分かれます。名称はメーカーによって異なり、SPA400/SPI3800Nではコンタクトモードを「AFM」、ダイナミックモードを「DFM」と呼びますが、本ページではコンタクトモード、ダイナミックモードに統一しています。

このページでは、走査プローブ顕微鏡(SPM)による水平力(摩擦力)測定について説明しています。摩擦力測定はLFM(lateral force microscopy)またはFFM(friction force microscopy)と呼ばれます。LFMでは、表面形状と同時に摩擦の分布を測定することで、表面形状だけでは見えない材質の違いを測定できます。

このページでは、走査プローブ顕微鏡における液中測定について説明しています。

このページは、走査プローブ顕微鏡の物性測定の一つである磁気力測定（Magnetic Force Microscopy: MFM)について説明しています。MFMは、試料表面形状と同時に試料の磁気分布を知ることができる測定法です。

このページは、走査プローブ顕微鏡の電気的な測定の一つである表面電位測定(Kelvin-prove force microscopy: KPFM)について説明しています。KPFMは、ナノスケールの電気特性や電子物性評価のための計測法として使用されます。

このページでは、走査プローブ顕微鏡(SPM)による電流測定について説明しています。電流測定はC-AFM(Conductive-AFM)とも呼ばれ、コンタクトモードによる表面形状測定と共に、カンチレバーと試料の間に一定の電圧をかけ、流れる電流の変化から試料の導電性の分布を同時に測定する方法です。電流測定には、試料台 - 試料 - カンチレバーの間に電流が流れるように導通を取る必要があり、導電性を確保するためにコーティングしたカンチレバーを使用します。