1. HOME
  2. センター機器利用方法
  3. 講習申込方法

講習申込方法

学内の方

自己測定に対応している設備は、機器ごとに講習会または利用資格試験を行っております。講習会等の詳細については、設備検索で調べた上で、その案内にしたがってください。一部の機器では、当サイト内の機能を使ってオンライン予約ができるようになっています。各機器の講習方法については、このページの下の方にある一覧もお役立てください。

なお、機器担当者の検索は、当サイトの他、大学連携研究設備ネットワークから行うこともできます。また、学内利用者は利用者登録をしていただくと、講習会やセミナーのご案内などもメーリングリストにより配信されます。その他、ご不明な点は、お問い合わせ窓口、または機器分析評価センター職員へお問い合わせください。

学外の方

お問い合わせフォームからご相談ください。

各機器の講習方法一覧

機器名 機種 講習の申込み法
走査型電子顕微鏡 JSM-7001F オンライン
走査型電子顕微鏡 SU8010 オンライン
走査型電子顕微鏡 VE-8800 オンライン
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB-SEM) JIB-4501 お問い合わせ
透過電子顕微鏡 JEM-2100F お問い合わせ
走査プローブ顕微鏡 (SPM・AFM) SPI3800N お問い合わせ
電子線マイクロアナライザー (FE-EPMA) JXA-8530F 依頼分析のみ
研磨機 EcoMet250 + AutoMet250 お問い合わせ
精密切断機 IsoMet1000 お問い合わせ
イオンスパッター JFC-3000FC お問い合わせ
イオンスライサー EM-09100 I お問い合わせ
ウルトラミクロトーム UC7 お問い合わせ
オスミウムコーター Neoc-Pro お問い合わせ
カーボンコーター CADE-E お問い合わせ
マグネトロンスパッタ装置 MSP-1S お問い合わせ
埋込機 Simplimet 2 お問い合わせ
核磁気共鳴装置 (NMR) AVANCE III 600 オンライン
核磁気共鳴装置 (NMR) DRX500 オンライン
核磁気共鳴装置 (NMR) ECA500 オンライン
核磁気共鳴装置 (NMR) ECX400 オンライン
磁化測定装置 (SQUID) S700X-R お問い合わせ
電子スピン共鳴 (ESR) JES-FA200 お問い合わせ
高速液体クロマトグラフ LaChrom Elite お問い合わせ
高速液体クロマトグラフ LaChrom Ultra お問い合わせ
イオンクロマトグラフ IA-300 お問い合わせ
液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 Nano Frontier LD オンライン
四重極型二次イオン質量分析装置 PHI ADEPT-1010 お問い合わせ
MALDI (TOF/TOF) 質量分析計 Autoflex speed オンライン
ガスクロ-質量分析計 (GC/MS) Agilent 7000B お問い合わせ
二重収束型質量分析計 (MS,GC/MS) JMS-MS600 お問い合わせ
ICP発光分光分析装置 ICPE-9000 お問い合わせ
ICP質量分析装置 Agilent 7700x お問い合わせ
多目的X線回折装置 SmartLab オンライン
多目的X線回折装置 Ultima Ⅳ オンライン
単結晶X線構造解析装置 XtaLAB PRO お問い合わせ
X線光電子分光分析装置 Quantera-SXM お問い合わせ
蛍光X線分析装置 JSX-3100RII  お問い合わせ
フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR) FT-IR 6200 オンライン
顕微ラマン分光装置 inVia Reflex お問い合わせ
CHNS有機元素分析 varioEL III お問い合わせ
紫外可視分光光度計 V-560 オンライン
蛍光分光光度計 FP-8500 ページ参照
倒立光学顕微鏡 DMI3000 B お問い合わせ
マイクロウェーブ試料前処理装置 ETHOS UP お問い合わせ
溶媒濃縮装置 (コンビニ・エバポ) C1 お問い合わせ
DNAシークエンサー 310 Genetic Analyzer お問い合わせ
セルソーター MoFlo Astrios お問い合わせ
引張試験機 テンシロンRTF1350 お問い合わせ