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機器一覧
- ガスクロマトグラフ－トリプル四重極質量分析計 (GC/MS)：Agilent7000B
- 液体クロマトグラフ－タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS)： Nano Frontier LD
- MALDI (TOF/TOF) 質量分析計： Autoflex speed
- 二重収束型質量分析計（MS，GC/MS）： JMS-MS600
- 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE III 600
- 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 600
- 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 500
- 核磁気共鳴装置（NMR）：ECA500
- 核磁気共鳴装置（NMR）：ECX400
- 電子スピン共鳴（ESR）：JES-FA200
- ICP発光分光装置 : ICPE-9000
- ICP質量分析装置 : Agilent 7700x
- 透過電子顕微鏡： JEM-2100F
- 走査型電子顕微鏡：JSM-7001F
- 走査型電子顕微鏡：SU8010
- 走査型電子顕微鏡：VE-8800
- 走査型電子顕微鏡：FlexSEM 1000 Ⅱ
- 電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F
- 集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SEM）：JIB-4501
- 単結晶X線構造解析装置：XtaLAB PRO
- 多目的X線回折装置：SmartLab
- 多目的X線回折装置：Ultima Ⅳ
- CHNS有機元素分析: UNICUBE
- フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200
- ラマン分光計： inVia Reflex
- 紫外可視分光光度計：V-560
- 蛍光分光光度計: FP-8500
- 引張試験機：テンシロンRTF1350
- X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM
- 蛍光X線分析装置：JSX-3100RII
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