横浜国立大学 研究推進機構
結晶性物質にX線を照射すると回折現象が起こります。これを検出して結晶構造を解析するのがX線回折装置ですが、ただX線を試料に当てれば勝手に結果が出てくるわけではありません。適切な条件、調整を行った上で測定することで正しく再現性のある結果が得られます。
ここでは初級者向けに、光学系や測定の実作業における注意点等を中心に解説していきます。(ブラッグの回折条件等は前提知識とします)
Appx1. ブラッグ条件計算ツール Appx2. 照射幅計算ツール