| CHNS有機元素分析: UNICUBE |
◎ |
|
|
| FIB-SEM: Crossbeam 550 |
△ |
未定 |
EBSD FSD損傷により一部動作不良 |
| ICP発光分光装置 : ICPE-9000 |
◎ |
|
|
| ICP質量分析装置 : Agilent 7700x |
× |
未定（メーカー修理調整中） |
測定アプリケーションに不具合が起きたため、測定が不能。 |
| MALDI (SpiralTOF) 質量分析計： JMS-S3000 |
◎ |
|
|
| pHメーター： Orion Star VERSA Pro |
◎ |
|
|
| X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM |
× |
未定 |
イオンポンプ不具合 |
| イオンクロマトグラフ：IA-300 |
◎ |
|
|
| イオンスパッター: JFC-1500 |
◎ |
|
|
| イオンスパッター： JFC-3000FC |
◎ |
|
|
| イオンスライサー： EM-09100 I |
× |
未定 |
稼働停止中 |
| ウルトラミクロトーム： UC7 |
◎ |
|
|
| オスミウムコーター： Neoc-STB |
◎ |
|
|
| カーボンコーター： CADE-E |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－トリプル四重極質量分析計 (GC/MS)：Agilent7000B |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－質量分析計 (GC-MS)： Exploris GC |
◎ |
|
|
| クロスセクションポリッシャ |
◎ |
|
|
| サーモグラフィ： FLIR E60 |
◎ |
|
|
| セルソーター：MoFlo Astrios |
◎ |
|
|
| デジタルマイクロスコープ： Emspira 3 |
◎ |
|
|
| ヒートブロック酸分解システム：DigiPREP CUBE |
◎ |
|
|
| フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200 |
◎ |
|
|
| マイクロウェーブ試料前処理装置： ETHOS UP |
◎ |
|
|
| マグネトロンスパッタ装置：MSP-1S |
◎ |
|
|
| ラマン分光計： inVia Reflex |
△ |
未定（メーカー修理調整中） |
冷却不可（加温は可） |
| 倒立光学顕微鏡： DMI3000 B |
◎ |
|
|
| 共焦点レーザー顕微鏡： LSM980 |
◎ |
|
|
| 凍結粉砕機：JFC-400 |
◎ |
|
|
| 卓上型超遠心機： Optima MAX-XP |
◎ |
|
|
| 単結晶X線構造解析装置：XtaLAB PRO |
◎ |
|
|
| 原子吸光分光光度計： AA-7000 |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：SmartLab |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：Ultima Ⅳ |
◎ |
|
|
| 引張試験機：テンシロンRTF1350 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE III 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 500 |
△ |
9月下旬 |
スピン回転不良のため、自動測定はスピンOFFにしています |
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：ECX400 |
◎ |
|
|
| 正立型光学顕微鏡： OPTIPHOT-2 |
◎ |
|
|
| 液体クロマトグラフ－質量分析計 (LC-MS)： Exploris 240 |
◎ |
|
|
| 溶媒濃縮装置（コンビニ・エバポC1） |
◎ |
|
|
| 白色干渉計搭載レーザー顕微鏡： VK-X3000 |
◎ |
|
|
| 研磨機： EcoMet250 + AutoMet250 |
◎ |
|
|
| 精密切断機： IsoMet1000 |
◎ |
|
|
| 紫外可視分光光度計：V-560 |
◎ |
|
|
| 蛍光X線分析装置：JSX-3100RII |
◎ |
|
|
| 蛍光分光光度計: FP-8500 |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPA400/SPI3800N |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPM-9700HT |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：FlexSEM 1000 Ⅱ |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：JSM-7001F |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：SU8010 |
◎ |
|
|
| 透過電子顕微鏡： JEM-2100F |
△ |
未定 |
EDS使用不能（EDS以外は使用可） |
| 電動ズーム顕微鏡：AxioZoom.V16 |
◎ |
|
|
| 電子スピン共鳴（ESR）：JES-FA200 |
◎ |
|
|
| 電子天秤 |
◎ |
|
|
| 電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F |
◎ |
|
|
| 高速液体クロマトグラフ： LaChrom Ultra |
◎ |
|
|
| 高速液体クロマトグラフ： LaChrom Ultra |
◎ |
|
|
| 電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F |
◎ |
|
|
| 電子天秤 |
◎ |
|
|
| 電子スピン共鳴（ESR）：JES-FA200 |
◎ |
|
|
| 電動ズーム顕微鏡：AxioZoom.V16 |
◎ |
|
|
| 透過電子顕微鏡： JEM-2100F |
△ |
未定 |
EDS使用不能（EDS以外は使用可） |
| 走査型電子顕微鏡：SU8010 |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：JSM-7001F |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：FlexSEM 1000 Ⅱ |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPM-9700HT |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPA400/SPI3800N |
◎ |
|
|
| 蛍光分光光度計: FP-8500 |
◎ |
|
|
| 蛍光X線分析装置：JSX-3100RII |
◎ |
|
|
| 紫外可視分光光度計：V-560 |
◎ |
|
|
| 精密切断機： IsoMet1000 |
◎ |
|
|
| 研磨機： EcoMet250 + AutoMet250 |
◎ |
|
|
| 白色干渉計搭載レーザー顕微鏡： VK-X3000 |
◎ |
|
|
| 溶媒濃縮装置（コンビニ・エバポC1） |
◎ |
|
|
| 液体クロマトグラフ－質量分析計 (LC-MS)： Exploris 240 |
◎ |
|
|
| 正立型光学顕微鏡： OPTIPHOT-2 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：ECX400 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 500 |
△ |
9月下旬 |
スピン回転不良のため、自動測定はスピンOFFにしています |
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE III 600 |
◎ |
|
|
| 引張試験機：テンシロンRTF1350 |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：Ultima Ⅳ |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：SmartLab |
◎ |
|
|
| 原子吸光分光光度計： AA-7000 |
◎ |
|
|
| 単結晶X線構造解析装置：XtaLAB PRO |
◎ |
|
|
| 卓上型超遠心機： Optima MAX-XP |
◎ |
|
|
| 凍結粉砕機：JFC-400 |
◎ |
|
|
| 共焦点レーザー顕微鏡： LSM980 |
◎ |
|
|
| 倒立光学顕微鏡： DMI3000 B |
◎ |
|
|
| ラマン分光計： inVia Reflex |
△ |
未定（メーカー修理調整中） |
冷却不可（加温は可） |
| マグネトロンスパッタ装置：MSP-1S |
◎ |
|
|
| マイクロウェーブ試料前処理装置： ETHOS UP |
◎ |
|
|
| フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200 |
◎ |
|
|
| ヒートブロック酸分解システム：DigiPREP CUBE |
◎ |
|
|
| デジタルマイクロスコープ： Emspira 3 |
◎ |
|
|
| セルソーター：MoFlo Astrios |
◎ |
|
|
| サーモグラフィ： FLIR E60 |
◎ |
|
|
| クロスセクションポリッシャ |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－質量分析計 (GC-MS)： Exploris GC |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－トリプル四重極質量分析計 (GC/MS)：Agilent7000B |
◎ |
|
|
| カーボンコーター： CADE-E |
◎ |
|
|
| オスミウムコーター： Neoc-STB |
◎ |
|
|
| ウルトラミクロトーム： UC7 |
◎ |
|
|
| イオンスライサー： EM-09100 I |
× |
未定 |
稼働停止中 |
| イオンスパッター： JFC-3000FC |
◎ |
|
|
| イオンスパッター: JFC-1500 |
◎ |
|
|
| イオンクロマトグラフ：IA-300 |
◎ |
|
|
| X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM |
× |
未定 |
イオンポンプ不具合 |
| pHメーター： Orion Star VERSA Pro |
◎ |
|
|
| MALDI (SpiralTOF) 質量分析計： JMS-S3000 |
◎ |
|
|
| ICP質量分析装置 : Agilent 7700x |
× |
未定（メーカー修理調整中） |
測定アプリケーションに不具合が起きたため、測定が不能。 |
| ICP発光分光装置 : ICPE-9000 |
◎ |
|
|
| FIB-SEM: Crossbeam 550 |
△ |
未定 |
EBSD FSD損傷により一部動作不良 |
| CHNS有機元素分析: UNICUBE |
◎ |
|
|
| マグネトロンスパッタ装置：MSP-1S |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：SmartLab |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：Ultima Ⅳ |
◎ |
|
|
| 精密切断機： IsoMet1000 |
◎ |
|
|
| CHNS有機元素分析: UNICUBE |
◎ |
|
|
| ICP発光分光装置 : ICPE-9000 |
◎ |
|
|
| MALDI (SpiralTOF) 質量分析計： JMS-S3000 |
◎ |
|
|
| pHメーター： Orion Star VERSA Pro |
◎ |
|
|
| イオンクロマトグラフ：IA-300 |
◎ |
|
|
| イオンスパッター: JFC-1500 |
◎ |
|
|
| イオンスパッター： JFC-3000FC |
◎ |
|
|
| ウルトラミクロトーム： UC7 |
◎ |
|
|
| オスミウムコーター： Neoc-STB |
◎ |
|
|
| カーボンコーター： CADE-E |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－トリプル四重極質量分析計 (GC/MS)：Agilent7000B |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－質量分析計 (GC-MS)： Exploris GC |
◎ |
|
|
| クロスセクションポリッシャ |
◎ |
|
|
| サーモグラフィ： FLIR E60 |
◎ |
|
|
| セルソーター：MoFlo Astrios |
◎ |
|
|
| デジタルマイクロスコープ： Emspira 3 |
◎ |
|
|
| ヒートブロック酸分解システム：DigiPREP CUBE |
◎ |
|
|
| フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200 |
◎ |
|
|
| マイクロウェーブ試料前処理装置： ETHOS UP |
◎ |
|
|
| 倒立光学顕微鏡： DMI3000 B |
◎ |
|
|
| 共焦点レーザー顕微鏡： LSM980 |
◎ |
|
|
| 凍結粉砕機：JFC-400 |
◎ |
|
|
| 卓上型超遠心機： Optima MAX-XP |
◎ |
|
|
| 単結晶X線構造解析装置：XtaLAB PRO |
◎ |
|
|
| 原子吸光分光光度計： AA-7000 |
◎ |
|
|
| 引張試験機：テンシロンRTF1350 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE III 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：ECX400 |
◎ |
|
|
| 正立型光学顕微鏡： OPTIPHOT-2 |
◎ |
|
|
| 液体クロマトグラフ－質量分析計 (LC-MS)： Exploris 240 |
◎ |
|
|
| 溶媒濃縮装置（コンビニ・エバポC1） |
◎ |
|
|
| 白色干渉計搭載レーザー顕微鏡： VK-X3000 |
◎ |
|
|
| 研磨機： EcoMet250 + AutoMet250 |
◎ |
|
|
| 紫外可視分光光度計：V-560 |
◎ |
|
|
| 蛍光X線分析装置：JSX-3100RII |
◎ |
|
|
| 蛍光分光光度計: FP-8500 |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPA400/SPI3800N |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPM-9700HT |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：FlexSEM 1000 Ⅱ |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：JSM-7001F |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：SU8010 |
◎ |
|
|
| 電動ズーム顕微鏡：AxioZoom.V16 |
◎ |
|
|
| 電子スピン共鳴（ESR）：JES-FA200 |
◎ |
|
|
| 電子天秤 |
◎ |
|
|
| 電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F |
◎ |
|
|
| 高速液体クロマトグラフ： LaChrom Ultra |
◎ |
|
|
| FIB-SEM: Crossbeam 550 |
△ |
未定 |
EBSD FSD損傷により一部動作不良 |
| ラマン分光計： inVia Reflex |
△ |
未定（メーカー修理調整中） |
冷却不可（加温は可） |
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 500 |
△ |
9月下旬 |
スピン回転不良のため、自動測定はスピンOFFにしています |
| 透過電子顕微鏡： JEM-2100F |
△ |
未定 |
EDS使用不能（EDS以外は使用可） |
| ICP質量分析装置 : Agilent 7700x |
× |
未定（メーカー修理調整中） |
測定アプリケーションに不具合が起きたため、測定が不能。 |
| X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM |
× |
未定 |
イオンポンプ不具合 |
| イオンスライサー： EM-09100 I |
× |
未定 |
稼働停止中 |
| ICP質量分析装置 : Agilent 7700x |
× |
未定（メーカー修理調整中） |
測定アプリケーションに不具合が起きたため、測定が不能。 |
| X線光電子分光分析装置： Quantera-SXM |
× |
未定 |
イオンポンプ不具合 |
| イオンスライサー： EM-09100 I |
× |
未定 |
稼働停止中 |
| FIB-SEM: Crossbeam 550 |
△ |
未定 |
EBSD FSD損傷により一部動作不良 |
| ラマン分光計： inVia Reflex |
△ |
未定（メーカー修理調整中） |
冷却不可（加温は可） |
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 500 |
△ |
9月下旬 |
スピン回転不良のため、自動測定はスピンOFFにしています |
| 透過電子顕微鏡： JEM-2100F |
△ |
未定 |
EDS使用不能（EDS以外は使用可） |
| CHNS有機元素分析: UNICUBE |
◎ |
|
|
| ICP発光分光装置 : ICPE-9000 |
◎ |
|
|
| MALDI (SpiralTOF) 質量分析計： JMS-S3000 |
◎ |
|
|
| pHメーター： Orion Star VERSA Pro |
◎ |
|
|
| イオンクロマトグラフ：IA-300 |
◎ |
|
|
| イオンスパッター: JFC-1500 |
◎ |
|
|
| イオンスパッター： JFC-3000FC |
◎ |
|
|
| ウルトラミクロトーム： UC7 |
◎ |
|
|
| オスミウムコーター： Neoc-STB |
◎ |
|
|
| カーボンコーター： CADE-E |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－トリプル四重極質量分析計 (GC/MS)：Agilent7000B |
◎ |
|
|
| ガスクロマトグラフ－質量分析計 (GC-MS)： Exploris GC |
◎ |
|
|
| クロスセクションポリッシャ |
◎ |
|
|
| サーモグラフィ： FLIR E60 |
◎ |
|
|
| セルソーター：MoFlo Astrios |
◎ |
|
|
| デジタルマイクロスコープ： Emspira 3 |
◎ |
|
|
| ヒートブロック酸分解システム：DigiPREP CUBE |
◎ |
|
|
| フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）：FT-IR 6200 |
◎ |
|
|
| マイクロウェーブ試料前処理装置： ETHOS UP |
◎ |
|
|
| 倒立光学顕微鏡： DMI3000 B |
◎ |
|
|
| 共焦点レーザー顕微鏡： LSM980 |
◎ |
|
|
| 凍結粉砕機：JFC-400 |
◎ |
|
|
| 卓上型超遠心機： Optima MAX-XP |
◎ |
|
|
| 単結晶X線構造解析装置：XtaLAB PRO |
◎ |
|
|
| 原子吸光分光光度計： AA-7000 |
◎ |
|
|
| 引張試験機：テンシロンRTF1350 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE III 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：AVANCE NEO 600 |
◎ |
|
|
| 核磁気共鳴装置（NMR）：ECX400 |
◎ |
|
|
| 正立型光学顕微鏡： OPTIPHOT-2 |
◎ |
|
|
| 液体クロマトグラフ－質量分析計 (LC-MS)： Exploris 240 |
◎ |
|
|
| 溶媒濃縮装置（コンビニ・エバポC1） |
◎ |
|
|
| 白色干渉計搭載レーザー顕微鏡： VK-X3000 |
◎ |
|
|
| 研磨機： EcoMet250 + AutoMet250 |
◎ |
|
|
| 紫外可視分光光度計：V-560 |
◎ |
|
|
| 蛍光X線分析装置：JSX-3100RII |
◎ |
|
|
| 蛍光分光光度計: FP-8500 |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPA400/SPI3800N |
◎ |
|
|
| 走査プローブ顕微鏡（SPM・AFM）：SPM-9700HT |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：FlexSEM 1000 Ⅱ |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：JSM-7001F |
◎ |
|
|
| 走査型電子顕微鏡：SU8010 |
◎ |
|
|
| 電動ズーム顕微鏡：AxioZoom.V16 |
◎ |
|
|
| 電子スピン共鳴（ESR）：JES-FA200 |
◎ |
|
|
| 電子天秤 |
◎ |
|
|
| 電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)：JXA-8530F |
◎ |
|
|
| 高速液体クロマトグラフ： LaChrom Ultra |
◎ |
|
|
| マグネトロンスパッタ装置：MSP-1S |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：SmartLab |
◎ |
|
|
| 多目的X線回折装置：Ultima Ⅳ |
◎ |
|
|
| 精密切断機： IsoMet1000 |
◎ |
|
|
