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機器の稼働状況

正常
不具合あり
×
使用不可
機器名 状況
解消予定 補足情報
CHNS有機元素分析: UNICUBE
FIB-SEM: Crossbeam 550
ICP発光分光装置 : ICPE-9000
ICP質量分析装置 : Agilent 7700x
MALDI (TOF/TOF) 質量分析計: Autoflex speed メンテ依頼中 検出感度がやや低下中。質量の校正がぶれる現象が発生中。
pHメーター: Orion Star VERSA Pro
X線光電子分光分析装置: Quantera-SXM
イオンクロマトグラフ:IA-300
イオンスパッター: JFC-1500
イオンスパッター: JFC-3000FC
イオンスライサー: EM-09100 I
ウルトラミクロトーム: UC7
オスミウムコーター: Neoc-STB
カーボンコーター: CADE-E
ガスクロマトグラフ-トリプル四重極質量分析計 (GC/MS):Agilent7000B
クロスセクションポリッシャ × 7/25修理 真空排気不具合
サーモグラフィ: FLIR E60
セルソーター:MoFlo Astrios
ヒートブロック酸分解システム:DigiPREP CUBE
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR):FT-IR 6200 なし(対策方法 連絡済み) ATRダイヤモンドプリズムに液体が染みて残りやすい不具合あり
マイクロウェーブ試料前処理装置: ETHOS UP
マグネトロンスパッタ装置:MSP-1S
ラマン分光計: inVia Reflex
二重収束型質量分析計(MS,GC/MS): JMS-MS600 × なし 運用停止中
倒立光学顕微鏡: DMI3000 B
共焦点レーザー顕微鏡: LSM980
凍結粉砕機:JFC-400
単結晶X線構造解析装置:XtaLAB PRO
原子吸光分光光度計: AA-7000
多目的X線回折装置:SmartLab
多目的X線回折装置:Ultima Ⅳ
引張試験機:テンシロンRTF1350
核磁気共鳴装置(NMR):AVANCE III 600 未定 Low-γ 固体プローブなど一部の部品が故障中
核磁気共鳴装置(NMR):DRX500 未定 サンプルスピンに不良あり
核磁気共鳴装置(NMR):ECA500
核磁気共鳴装置(NMR):ECX400
液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS): Nano Frontier LD × 未定 本体とイオン源ユニットが通信不良
溶媒濃縮装置(コンビニ・エバポC1)
白色干渉計搭載レーザー顕微鏡: VK-X3000
研磨機:  EcoMet250 + AutoMet250
精密切断機: IsoMet1000
紫外可視分光光度計:V-560
薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS): JMS-Q1000TD
蛍光X線分析装置:JSX-3100RII 
蛍光分光光度計: FP-8500
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPA-400/SPI3800N
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPM-9700HT
走査型電子顕微鏡:JSM-7001F
走査型電子顕微鏡:SU8010
走査型電子顕微鏡:VE-8800
透過電子顕微鏡: JEM-2100F
電動ズーム顕微鏡:AxioZoom.V16
電子スピン共鳴(ESR):JES-FA200
電子天秤
電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA):JXA-8530F
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Elite
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Ultra
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Ultra
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Elite
電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA):JXA-8530F
電子天秤
電子スピン共鳴(ESR):JES-FA200
電動ズーム顕微鏡:AxioZoom.V16
透過電子顕微鏡: JEM-2100F
走査型電子顕微鏡:VE-8800
走査型電子顕微鏡:SU8010
走査型電子顕微鏡:JSM-7001F
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPM-9700HT
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPA-400/SPI3800N
蛍光分光光度計: FP-8500
蛍光X線分析装置:JSX-3100RII 
薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS): JMS-Q1000TD
紫外可視分光光度計:V-560
精密切断機: IsoMet1000
研磨機:  EcoMet250 + AutoMet250
白色干渉計搭載レーザー顕微鏡: VK-X3000
溶媒濃縮装置(コンビニ・エバポC1)
液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS): Nano Frontier LD × 未定 本体とイオン源ユニットが通信不良
核磁気共鳴装置(NMR):ECX400
核磁気共鳴装置(NMR):ECA500
核磁気共鳴装置(NMR):DRX500 未定 サンプルスピンに不良あり
核磁気共鳴装置(NMR):AVANCE III 600 未定 Low-γ 固体プローブなど一部の部品が故障中
引張試験機:テンシロンRTF1350
多目的X線回折装置:Ultima Ⅳ
多目的X線回折装置:SmartLab
原子吸光分光光度計: AA-7000
単結晶X線構造解析装置:XtaLAB PRO
凍結粉砕機:JFC-400
共焦点レーザー顕微鏡: LSM980
倒立光学顕微鏡: DMI3000 B
二重収束型質量分析計(MS,GC/MS): JMS-MS600 × なし 運用停止中
ラマン分光計: inVia Reflex
マグネトロンスパッタ装置:MSP-1S
マイクロウェーブ試料前処理装置: ETHOS UP
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR):FT-IR 6200 なし(対策方法 連絡済み) ATRダイヤモンドプリズムに液体が染みて残りやすい不具合あり
ヒートブロック酸分解システム:DigiPREP CUBE
セルソーター:MoFlo Astrios
サーモグラフィ: FLIR E60
クロスセクションポリッシャ × 7/25修理 真空排気不具合
ガスクロマトグラフ-トリプル四重極質量分析計 (GC/MS):Agilent7000B
カーボンコーター: CADE-E
オスミウムコーター: Neoc-STB
ウルトラミクロトーム: UC7
イオンスライサー: EM-09100 I
イオンスパッター: JFC-3000FC
イオンスパッター: JFC-1500
イオンクロマトグラフ:IA-300
X線光電子分光分析装置: Quantera-SXM
pHメーター: Orion Star VERSA Pro
MALDI (TOF/TOF) 質量分析計: Autoflex speed メンテ依頼中 検出感度がやや低下中。質量の校正がぶれる現象が発生中。
ICP質量分析装置 : Agilent 7700x
ICP発光分光装置 : ICPE-9000
FIB-SEM: Crossbeam 550
CHNS有機元素分析: UNICUBE
FIB-SEM: Crossbeam 550
ウルトラミクロトーム: UC7
オスミウムコーター: Neoc-STB
カーボンコーター: CADE-E
サーモグラフィ: FLIR E60
ヒートブロック酸分解システム:DigiPREP CUBE
マグネトロンスパッタ装置:MSP-1S
単結晶X線構造解析装置:XtaLAB PRO
多目的X線回折装置:SmartLab
多目的X線回折装置:Ultima Ⅳ
白色干渉計搭載レーザー顕微鏡: VK-X3000
研磨機:  EcoMet250 + AutoMet250
精密切断機: IsoMet1000
走査型電子顕微鏡:VE-8800
CHNS有機元素分析: UNICUBE
ICP発光分光装置 : ICPE-9000
ICP質量分析装置 : Agilent 7700x
pHメーター: Orion Star VERSA Pro
X線光電子分光分析装置: Quantera-SXM
イオンクロマトグラフ:IA-300
イオンスパッター: JFC-1500
イオンスパッター: JFC-3000FC
イオンスライサー: EM-09100 I
ガスクロマトグラフ-トリプル四重極質量分析計 (GC/MS):Agilent7000B
セルソーター:MoFlo Astrios
マイクロウェーブ試料前処理装置: ETHOS UP
ラマン分光計: inVia Reflex
倒立光学顕微鏡: DMI3000 B
共焦点レーザー顕微鏡: LSM980
凍結粉砕機:JFC-400
原子吸光分光光度計: AA-7000
引張試験機:テンシロンRTF1350
核磁気共鳴装置(NMR):ECA500
核磁気共鳴装置(NMR):ECX400
溶媒濃縮装置(コンビニ・エバポC1)
紫外可視分光光度計:V-560
薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS): JMS-Q1000TD
蛍光X線分析装置:JSX-3100RII 
蛍光分光光度計: FP-8500
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPA-400/SPI3800N
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPM-9700HT
走査型電子顕微鏡:JSM-7001F
走査型電子顕微鏡:SU8010
透過電子顕微鏡: JEM-2100F
電動ズーム顕微鏡:AxioZoom.V16
電子スピン共鳴(ESR):JES-FA200
電子天秤
電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA):JXA-8530F
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Elite
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Ultra
MALDI (TOF/TOF) 質量分析計: Autoflex speed メンテ依頼中 検出感度がやや低下中。質量の校正がぶれる現象が発生中。
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR):FT-IR 6200 なし(対策方法 連絡済み) ATRダイヤモンドプリズムに液体が染みて残りやすい不具合あり
核磁気共鳴装置(NMR):AVANCE III 600 未定 Low-γ 固体プローブなど一部の部品が故障中
核磁気共鳴装置(NMR):DRX500 未定 サンプルスピンに不良あり
クロスセクションポリッシャ × 7/25修理 真空排気不具合
二重収束型質量分析計(MS,GC/MS): JMS-MS600 × なし 運用停止中
液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS): Nano Frontier LD × 未定 本体とイオン源ユニットが通信不良
クロスセクションポリッシャ × 7/25修理 真空排気不具合
二重収束型質量分析計(MS,GC/MS): JMS-MS600 × なし 運用停止中
液体クロマトグラフ-タンデムTOF型質量分析計 (LC/MS): Nano Frontier LD × 未定 本体とイオン源ユニットが通信不良
MALDI (TOF/TOF) 質量分析計: Autoflex speed メンテ依頼中 検出感度がやや低下中。質量の校正がぶれる現象が発生中。
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR):FT-IR 6200 なし(対策方法 連絡済み) ATRダイヤモンドプリズムに液体が染みて残りやすい不具合あり
核磁気共鳴装置(NMR):AVANCE III 600 未定 Low-γ 固体プローブなど一部の部品が故障中
核磁気共鳴装置(NMR):DRX500 未定 サンプルスピンに不良あり
CHNS有機元素分析: UNICUBE
ICP発光分光装置 : ICPE-9000
ICP質量分析装置 : Agilent 7700x
pHメーター: Orion Star VERSA Pro
X線光電子分光分析装置: Quantera-SXM
イオンクロマトグラフ:IA-300
イオンスパッター: JFC-1500
イオンスパッター: JFC-3000FC
イオンスライサー: EM-09100 I
ガスクロマトグラフ-トリプル四重極質量分析計 (GC/MS):Agilent7000B
セルソーター:MoFlo Astrios
マイクロウェーブ試料前処理装置: ETHOS UP
ラマン分光計: inVia Reflex
倒立光学顕微鏡: DMI3000 B
共焦点レーザー顕微鏡: LSM980
凍結粉砕機:JFC-400
原子吸光分光光度計: AA-7000
引張試験機:テンシロンRTF1350
核磁気共鳴装置(NMR):ECA500
核磁気共鳴装置(NMR):ECX400
溶媒濃縮装置(コンビニ・エバポC1)
紫外可視分光光度計:V-560
薄層クロマトグラフ質量分析計 (TLC-MS): JMS-Q1000TD
蛍光X線分析装置:JSX-3100RII 
蛍光分光光度計: FP-8500
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPA-400/SPI3800N
走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM):SPM-9700HT
走査型電子顕微鏡:JSM-7001F
走査型電子顕微鏡:SU8010
透過電子顕微鏡: JEM-2100F
電動ズーム顕微鏡:AxioZoom.V16
電子スピン共鳴(ESR):JES-FA200
電子天秤
電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA):JXA-8530F
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Elite
高速液体クロマトグラフ: LaChrom Ultra
FIB-SEM: Crossbeam 550
ウルトラミクロトーム: UC7
オスミウムコーター: Neoc-STB
カーボンコーター: CADE-E
サーモグラフィ: FLIR E60
ヒートブロック酸分解システム:DigiPREP CUBE
マグネトロンスパッタ装置:MSP-1S
単結晶X線構造解析装置:XtaLAB PRO
多目的X線回折装置:SmartLab
多目的X線回折装置:Ultima Ⅳ
白色干渉計搭載レーザー顕微鏡: VK-X3000
研磨機:  EcoMet250 + AutoMet250
精密切断機: IsoMet1000
走査型電子顕微鏡:VE-8800