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蛍光X線分析装置:JSX-3100RII 

  • 機器名

    蛍光X線分析(XRF: X‐ray Fluorescence)装置

  • メーカー

    JEOL(日本電子)

  • 型式

    JSX-3100RII

  • 利用目的

    バルクの元素分析

  • 担当

    髙梨

  • 連絡先

    担当者へ連絡

概要

蛍光X線分析装置は、試料にX線を照射して発生する蛍光X線のエネルギーと強度を測定して、そこに存在する元素の種類や濃度を知ることができます。次のような特徴があります。

  • 非破壊で多元素同時分析を行えます。
  • 液体、固体試料について試料の状態、形態を選びません。
  • Naより原子番号の大きい元素を検出可能です。ただし、NaとMg, Alについては試料室内を真空にして測定します。

仕様

検出器

液体窒素フリー Si(Li) 半導体検出器(EDS)を搭載。

測定法

FP法(ファンダメンタル・パラメーター法)を用いて標準物質なしで簡単に定量分析/膜厚分析が可能。

検量線試料を用意すれば検量線法にも対応。

試料のサイズ

直径1.8cm以上で表面の汚れのないものは直置きで、それより小さいか汚染のあるものはサンプルカップに入れて測定。

厚みは2mm以下で徐々に効率低下。

直径30cm, 高さ15cmまで測定可能。

測定範囲

1mmΦ, 3mmΦ, 7mmΦのコリメーターを選択可能で、狭い領域を選択的に分析するか、広い領域を高感度で分析するかを使い分け可能。分析位置確認用のCCDカメラを装備。

利用方法

学内

自己測定: 講習受講後に大学連携ネットワークより利用資格取得後に利用できます。

学外

依頼分析: 担当者へ申込
自己測定: 担当者へ相談

講習

お持ちいただいた試料を測定しながら2時間程度行います。
個別に日程を調整しますのでご連絡ください。

持ち物

  • 測定試料
  • データ持ち帰り用のUSBメモリ