走査プローブ顕微鏡(SPM、AFM)は、先端の尖った探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面の微細な形状や性質を観察できる顕微鏡の一種です。光学顕微鏡や電子顕微鏡と異なり、ビームやレンズを使用しませんが、一定の条件と試料に対して原子・分子レベルの分解能を持ち、透過型電子顕微鏡に並ぶ拡大能力を持ちます。また、探針で実際に試料表面に触れる特性を利用して、表面の粘弾性や電気的特性の分布等の物性測定を行うことができます。

最大測定範囲： 10μm四方(標準高速スキャナ使用時)または125μm四方(広域スキャナ使用時)
最大測定高さ： 1μm(標準高速スキャナ使用時)又は7μm(広域スキャナ使用時)
測定条件：大気中、液中、温度制御可(加熱のみ)
測定モード：AFMモード(コンタクトモード)、DFMモード(タッピングモード)
可能な測定：表面形状、位相観察、フォースカーブ、摩擦力、フォースモジュレーション（粘弾性）、電流計測、表面電位、ナノ物性評価(専用ソフトウェア)、粒子解析(専用ソフトウェア)

自己測定
講習を受講後自己測定が可能です。
講習は日程調整の上随時行いますので、担当者にご連絡下さい。

依頼測定
学内、学外からの依頼測定を受け付けています。
学内の方は、依頼前に試料や必要な測定等について、担当者にご相談下さい。多量のサンプルや継続して使用する場合は、講習の上自己測定での使用をお願いします。

学外の方は、試料や必要な情報について、担当者にご相談下さい。