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多目的X線回折装置Ultima Ⅳ

  • 機器名

    X線回折装置(XRD)

  • メーカー

    リガク

  • 型式

    Ultima Ⅳ

  • 利用目的

    粉末、バルクの結晶構造解析

  • 担当

    外部協力職員(工学研究院等技術部・岡安)、吉原

  • 連絡先

    担当者に連絡

概要

X線回折は試料にX線を照射し、物質の周期構造(結晶構造)由来の回折現象を測定する装置です。一般的なX線回折測定では横軸に回折角度2θ、縦軸に回折強度Iとした回折プロファイルを取得しますが、このパターンは物質に特有のため、データベースと照合することで定性分析を行うことができます。混合物であれば各物質の回折強度を比較することで定量分析も可能です。また、全体のパターンではなく特定の結晶面の回折に着目することで、バルク材料の配向性や集合組織の解析(極点測定)、加工による格子歪みの解析(残留応力測定)などができます。

仕様

X線発生部

最大定格出力 3 kW
管電圧可変範囲 20~50 kV
管電流可変範囲 2~60 mA
方式 封入管式
ターゲット Cu, Cr, Mo
焦点サイズ 1×10 mm

ゴニオメーター部

ゴニオメーター半径 185 mm
試料台 標準試料台、多目的試料台Ⅲγ振動軸付(MPA-ML4A)
サンプルサイズ Φ40 mm × 10 mmt(多目的試料台Ⅲ)

光学系部

入射光学系 入射スリット、ソーラースリット
受光光学系 散乱スリット、受光スリット、ソーラースリット

検出部

シンチレーションカウンター+固定モノクロメータ(Cu Kα)
半導体検出器D/teX Ultra2

利用方法

自己測定(講習受講後、ライセンス付与)