MFM測定の原理
MFMでは、試料表面の磁気を検知できるように磁性膜でコーティングされたカンチレバーを使用します。最初に表面にアプローチしてダイナミックモードで表面形状を測定し、次に表面から僅かに探針を上昇させるか振幅を小さくし、先端が表面から離れた状態で表面形状をトレースしながら振動の振幅と位相変化をスキャンし、磁気の分布を検出します。

MFMによる磁気力分布の測定方法
MFMに使用する磁性膜コートカンチレバーは、価格が比較的高い上に経時変化で磁気が弱まるため、使用期限があります。
このページは、走査プローブ顕微鏡の物性測定の一つである磁気力測定(Magnetic Force Microscopy: MFM)について説明しています。MFMは、試料表面形状と同時に試料の磁気分布を知ることができる測定法です。
MFMでは、試料表面の磁気を検知できるように磁性膜でコーティングされたカンチレバーを使用します。最初に表面にアプローチしてダイナミックモードで表面形状を測定し、次に表面から僅かに探針を上昇させるか振幅を小さくし、先端が表面から離れた状態で表面形状をトレースしながら振動の振幅と位相変化をスキャンし、磁気の分布を検出します。

MFMによる磁気力分布の測定方法
MFMに使用する磁性膜コートカンチレバーは、価格が比較的高い上に経時変化で磁気が弱まるため、使用期限があります。