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四重極型二次イオン質量分析装置（SIMS）

  • 機器名

    四重極型二次イオン質量分析装置（SIMS）

  • メーカー

    アルバック・ファイ

  • 型式

    PHI ADEPT-1010

  • 利用目的

    無機元素の深さ方向分析、標準物質を用いた定量分析

  • 連絡先

    本装置は、2023年6月30日をもって、センターから撤去しました。